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- 質檢——精密光學測量儀器
質檢——精密光學測量儀器 LAYERTEC的精密光學設備配備了用于平面和球形曲面的干涉儀。可以為平面度為λ/ 20（633nm）的平面基板和形狀度為λ/ 10（633nm）的球形基板提供干涉測量規程。
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- 更新日期：2026-02-08 ￥面議
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- ZAP-IT®激光校準紙
ZAP-IT®激光校準紙設計用于測試從紫外到紅外的脈沖激光的特性。光束特性是通過在光路內手持激光校準紙進行記錄的。激光校準紙非常適合用于校準應用或與激光光學件結合使用，其中包括激光擴束器、光學透鏡、光圈、衰減器或功率儀表。對于連續波激光，可以使用機械斬波器或Q開關，或者手動快速地打開和關閉激光，以產生短脈沖。
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- 更新日期：2026-02-08 ￥面議
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- Clavis3 QKD平臺
Clavis3 QKD平臺 量子密鑰分配（QKD）是一項利用量子物理學的基本原理（觀察引起擾動）的技術，可通過可證明的安全性在光纖網絡上交換密碼密鑰。
- 型號：
- 更新日期：2026-02-08 ￥面議
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- 1900-2100nm激光調光片
1900-2100nm激光調光片 可將不可見近紅外波段光束轉換成可見光，能夠有效實現對紅外光束的探測、跟蹤、校對、識別
- 型號：
- 更新日期：2026-02-08 ￥面議
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- 紅外顯示卡激光調光片激光探測卡倍頻片
紅外顯示卡激光調光片激光探測卡倍頻片 可將各種不可見近紅外波段光束轉換成可見光，能夠有效實現對紅外光束的探測、跟蹤、校對和識別
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- 更新日期：2026-02-08 ￥面議
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- 紅外輻射源TO46帶蓋填充氣體Kr和A1濾光片
紅外輻射源TO46帶蓋填充氣體Kr和A1濾光片 用于NDIR氣體分析和其他紅外測量應用的紅外輻射源。MEMS紅外發射器的高性能薄膜由納米非晶碳組成，其薄膜溫度高達850°C。它可以實現長期穩定的高輻射輸出。填充氣體和濾光片的組合可優化從UV到5.5 µm波長范圍內的發射。發射器所需的低輸入功率還支持獨立和手持式應用。
- 型號：
- 更新日期：2026-02-08 ￥面議
